AZ91D鎂合金電偶鹽霧腐蝕試驗機(jī)的掃描Kelvin探針研究

AZ91D鎂合金電偶鹽霧腐蝕試驗機(jī)的掃描Kelvin探針研究：

利用掃描Kelvin探針技術(shù)(SKP)研究AZ91D鎂合金與316L不銹鋼偶接件在鹽霧試驗箱中電偶鹽霧腐蝕試驗機(jī)規(guī)律。通過在中性鹽霧試驗箱不同周期的表面鹽霧腐蝕試驗機(jī)形貌的觀察和伏打電位分布圖的測量結(jié)果分析表明，AZ91D鎂合金電偶鹽霧腐蝕試驗機(jī)效應(yīng)與偶接陰陽極的伏打電位差密切相關(guān)，AZ91D鎂合金與316L不銹鋼偶接件存在較大的電位差(約為–1.28 V)，其電偶鹽霧腐蝕試驗機(jī)效應(yīng)非常顯著。在鹽霧試驗箱初始階段，鹽霧腐蝕試驗機(jī)主要發(fā)生在偶接界面AZ91D鎂合金一側(cè)，該鹽霧腐蝕試驗機(jī)區(qū)域的伏打電位增加幅度較大，而316L不銹鋼受到保護(hù)沒有發(fā)生明顯鹽霧腐蝕試驗機(jī)。隨著鹽霧試驗箱時間的延長，AZ91D鎂合金鹽霧腐蝕試驗機(jī)加快，鹽霧腐蝕試驗機(jī)產(chǎn)物覆蓋區(qū)域不斷擴(kuò)大，24 h鹽霧試驗箱后，偶接件的平均伏打單位差由原始的–1.29 V增加到–1.53 V，AZ91D鎂合金的電偶鹽霧腐蝕試驗機(jī)效應(yīng)加大。由于AZ91D鎂合金在鹽霧中生成的鹽霧腐蝕試驗機(jī)產(chǎn)物對基體具有一定的保護(hù)作用，當(dāng)鹽霧腐蝕試驗機(jī)產(chǎn)物不斷增加并覆蓋表面，偶接件的電位差減小導(dǎo)致AZ91D鎂合金的電偶鹽霧腐蝕試驗機(jī)效應(yīng)降低。

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