可靠性試驗的特點和分類

    電子設備產(chǎn)品的可靠性指標是一些綜合性、統(tǒng)計性的指標，與質(zhì)量性能指標完全不同，不可能用儀表、儀器或其它手段得到結果，而是要通過試驗，從試驗的過程中取得必要的數(shù)據(jù)，然后通過數(shù)據(jù)分析，處理才能得到可靠性指標的統(tǒng)計量。

   可靠性指標的實現(xiàn)主要依靠現(xiàn)場試驗或模擬現(xiàn)場條件試驗，所以可靠性試驗不同于一般設備的性能試驗。從廣義上講，為了了解、評價、分析和提高電子設備產(chǎn)品的可靠性水平而進行的試驗，可以用來確定電子設備產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下工作或貯存的可靠性的特征量。一般說電子設備產(chǎn)品的可靠性試驗可以分為研制階段的試驗，可靠性驗收試驗，可靠性增長試驗，元器件老煉試驗，試驗，負荷及過負荷試驗，過載能力試驗等，這類試驗的目的是了解設計是否滿足了可靠性指標的要求，找出或排除設計與制造過程中的缺限和不足，證明設計可靠性能否實現(xiàn)，因而可靠性試驗可以根據(jù)設備研制過程中的不同階段，不同要求進行各種不同的試驗。對于不同的電子設備產(chǎn)品，所要達到的目的不同，可以進行的可靠性試驗形式也就各異，因此可靠性試驗對于電子設備產(chǎn)品來說是一個系統(tǒng)工程，電子設備產(chǎn)品的可靠性試驗可以歸納為以下幾大類型。 

   破壞性試驗 環(huán)境引力試驗（全數(shù)） 可靠性增長試驗（TAAF）循環(huán) 可靠性驗收試驗（接受批） 可靠性鑒定試驗（評價） 可靠性統(tǒng)計試驗 環(huán)境試驗 壽命試驗 模擬環(huán)境試驗 自然放置試驗 模擬試驗（全壽命）