主營:高低溫沖擊箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、兩箱冷熱沖擊箱等設(shè)備
400-822-8565
158-9969-7899
寬帶隨機(jī)振動(dòng)【數(shù)字控制】與高溫、低溫綜合實(shí)驗(yàn)
1范圍
光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法
第15部分:寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)
與高溫、低溫綜合試驗(yàn)
Gß/T 12085.15-2010
本部分規(guī)定了寬帶隨機(jī)撮動(dòng)(數(shù)字控制〉綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序li..環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)i己.本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀端和光學(xué)零部件.本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯砍蓸拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到寬帶隨機(jī)振動(dòng)〈數(shù)字控制〉與高溫、低
溫影響時(shí)的變化程度。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 12085的本部分的引用而成為本部分的條款.兒是注日期的世l用文件,其隨后所有的修改單(不包括助誤的內(nèi)容〉或修訂版均不適用F本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是甜可使用這些文件的lå新版本.凡是不住日期的r;lffl文件,其版本適用于本部分。
GB/T 2123.43電℃電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法振動(dòng)、沖擊和類似動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)樣
品的安裝CCB/T 2123.43-2008.1E(,60068-247:2005,IDT)G13/T 12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境比驗(yàn)方法第l部分:術(shù)語、詞驗(yàn)范由CGB/T 12085.1-2010,ISO 90 22-1:1991,νlO D)
GB/丁12085.2光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第2部分:低溫、內(nèi)淚、濕熱CGB/T 12085.2
2010,1S0 9022億:2002,MOl))GB/T 12085.3光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:機(jī)械作用力CGB/T 12085.320]0,150 9022-3:1998,MOO)
3試驗(yàn)條件
在綜合作用力條件下對(duì)暴露的試樣進(jìn)行的測(cè)試,妥比任一種單一環(huán)境條件試驗(yàn)更為嚴(yán)酷.
在中規(guī)定的溫度值選自GB/T 12085.2,條件試驗(yàn)方法10和110試驗(yàn)成符合G I3/T 12085.3的要求。
固定試樣的裝置應(yīng)符合GB/T 2423.13的提求,試樣夾J~應(yīng)隔熱.若i式樣裝在減延器1-.,則應(yīng)考慮減震器元件恒溫的時(shí)間。
4條件試驗(yàn)
4.1總則
試樣各部分都應(yīng)達(dá)到試驗(yàn)箱(室)溫度3K以內(nèi)才開始試驗(yàn).對(duì)于散熱型試樣,在眼皮穩(wěn)定的試驗(yàn)箱(軍)內(nèi)試樣的溫度變化在每小時(shí)不超過lK時(shí)作為開始〈或終止)暴露周期的時(shí)問,試樣混度達(dá)到穩(wěn)定的M后1 h作為3暴露周期的最初1hG8/T 12085.15-2010
4.2條件試驗(yàn)方法7 0:寬帶隨機(jī)振動(dòng)與高溫綜合試驗(yàn)
4.2.1條件試驗(yàn)方法70,頻率范圍20 H z~150 Hz的寬帶隨機(jī)振動(dòng)與高溫綜合試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)按者1.
4.2.2條件試驗(yàn)方法70,頻率范圍20 H z~500 Hz的寬帶隨機(jī)振動(dòng)與高溫綜合試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)按我2.
4.2.3條件試驗(yàn)方法70,頻率范國20 Hz~2 000 H z的寬帶隨機(jī)振動(dòng)與高溫綜合試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)按表3.
4.3條件試驗(yàn)方法7 1:寬帶隨機(jī)振動(dòng)與低溫綜合試驗(yàn)
5試驗(yàn)程序
5.1總則
試驗(yàn)應(yīng)符合相關(guān)規(guī)定。
5.2試驗(yàn)順序
試樣置于試驗(yàn)誼度下的暴露時(shí)間取決于試樣的熱性能和振動(dòng)所要求的時(shí)間,當(dāng)試樣需要沿另一鈾線#運(yùn)動(dòng),允許試樣在環(huán)境溫度和試驗(yàn)溫度之間的任意溫度值上重新安置,但不得出現(xiàn)凝露、箱或冰。
6環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記
環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記應(yīng)符合GB/T 12085.1的規(guī)定.
示例:光學(xué)儀器抗寬帶隨機(jī)振動(dòng)與低混綜合試驗(yàn),條件方法7 1、嚴(yán)酷等級(jí)03、工作狀態(tài)1的標(biāo)記為:
7有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)包括的內(nèi)容
a)環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記;
的試樣的數(shù)量;
GBjT 12085.15-2010
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c)機(jī)械振動(dòng)所沿的軸線:
d)溫度測(cè)量的點(diǎn)的位置和敬量;
c)預(yù)處理;
[)初始檢測(cè)的內(nèi)容和范國i
g)工作狀態(tài)2工作用期的確定;
h)工作狀態(tài)2中問檢測(cè)的內(nèi)容和范圍;
i)恢復(fù);
j)最后檢測(cè)的內(nèi)容和范圍;
k)評(píng)價(jià)判據(jù)i
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